IRIS

4.1 Contributo in Atti di convegno: [6521] Home page tipologia

Sfoglia
Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 2.661 a 2.680 di 6.521
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Caratterizzazione e realizzazione di sensori 1-gen-1993 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Dell'Isola, Marco; A., Pietrosanto
Compensazione neurale degli errori nei convertitori A/D 1-gen-1996 A., Baccigalupi; Bernieri, Andrea; C., Liguori
Tecniche di misura per l'identificazione e la diagnosi di guasti in sistemi elettrici 1-gen-1993 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., D'Apuzzo; A., Pietrosanto
Stazioni di misura impieganti DSP in parallelo per la diagnostica su componenti e sistemi 1-gen-1996 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; C., Liguori
Rilievo e diagnosi di guasti in stazioni automatiche di misura 1-gen-1995 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni
Sistemi di misura basati su DSP per il rilievo e la diagnosi di guasti 1-gen-1995 Bernieri, Andrea; C., Liguori
Caratterizzazione metrologica di algoritmi per l'elaborazione digitale di segnali 1-gen-1997 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; C., Liguori; A., Pietrosanto
Compensatore neurale per convertitori A/D impiegante un processore digitale di segnali 1-gen-1997 A., Baccigalupi; Bernieri, Andrea; C., Liguori
Approccio neurale per la risoluzione di problemi di ambiguità nella localizzazione di guasti 1-gen-1997 Bernieri, Andrea
Strumento virtuale neurale per applicazioni diagnostiche 1-gen-2000 Bernieri, Andrea
Identificazione di guasti su linee di trasmissione elettriche di potenza 1-gen-1998 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; S., Sangiovanni; E., Zappitelli
Un sistema di misura basato su sensori magnetici per test non distruttivi 1-gen-1999 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., Federico
Miglioramento delle prestazioni di un sistema di misura basato su correnti parassite per il rilievo di difetti in materiali conduttori 1-gen-2001 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi
Sistema di misura basato su correnti parassite per test non distruttivi 1-gen-2000 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni
Microstructure evolution, creep damage mechanisms and life prediction of high chromium martensitic steel ASTM grades 91 and 92 1-gen-2008 Cipolla, L.; Lombardi, P.; Folgarait, P.; Di Gianfrancesco, A.; Bonora, Nicola; Esposito, L.; Cumino, G.; Caminada, S.
A continuum damage mechanics model for failure of metals in high temperature environment 1-gen-2008 Bonora, Nicola; L., Esposito
Primary creep modeling based on the dependence of the activation energy on the internal stress 1-gen-2010 L., Esposito; Bonora, Nicola
Damage development in high purity copper under varying dynamic conditions and microstructural states using continuum damage mechanics 1-gen-2009 Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Esposito, L.; Iannitti, G.
Ductile damage evolution assessment in high purity copper and stainless steel subjected to different shock-loading profiles using cohesive modeling 1-gen-2009 Ruggiero, Andrew; Bonora, Nicola; Esposito, L.; Gray III, G. T.
Minimum Volume Peeling: a Multivariate Mode Estimator 1-gen-2012 Porzio, Giovanni Camillo; G., Ragozini; S., Liebscher; T., Kirschstein
Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 2.661 a 2.680 di 6.521
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Scopri
Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ...6520
  • 2 Contributo in Volume1
Autore
  • FERRIGNO, Luigi234
  • BETTA, Giovanni216
  • ATTAIANESE, Ciro212
  • CAPRIGLIONE, Domenico165
  • CECCARELLI, Marco160
  • MARIGNETTI, Fabrizio157
  • MAFFUCCI, Antonio153
  • ANTONELLI, Gianluca145
  • BUZZI, Stefano126
  • CHIAVERINI, Stefano126
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa12
  • 2020 - 2026820
  • 2010 - 20192141
  • 2000 - 20092654
  • 1990 - 1999798
  • 1980 - 198992
  • 1977 - 19794
Editore
  • IEEE575
  • Institute of Electrical and Elect...246
  • -65
  • Springer55
  • IMEKO41
  • IEEE Computer Society38
  • Springer Science and Business Med...35
  • Elsevier B.V.34
  • AIM28
  • Elsevier27
Rivista
  • PROCEDIA STRUCTURAL INTEGRITY34
  • JOURNAL OF PHYSICS. CONFERENCE SE...31
  • PROCEDIA ENGINEERING11
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS8
  • E3S WEB OF CONFERENCES8
  • SAE TECHNICAL PAPER7
  • EPJ WEB OF CONFERENCES6
  • ...SUMMER SCHOOL FRANCESCO TURCO....4
  • ENGINEERING PROCEEDINGS4
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS3
Serie
  • LECTURE NOTES IN COMPUTER SCIENCE24
  • CONFERENCE PROCEEDINGS - IEEE INS...18
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS16
  • LECTURE NOTES IN ARTIFICIAL INTEL...10
  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGIN...10
  • PROCEDIA CIRP9
  • MECHANISMS AND MACHINE SCIENCE8
  • PROCEEDINGS IFKAD...7
  • SPRINGER SERIES IN GEOMECHANICS A...7
  • CONFERENCE RECORD - ASILOMAR CONF...6
Keyword
  • AHP20
  • jet grouting16
  • Montecassino16
  • energy efficiency14
  • Simulation14
  • hydrogen12
  • Modeling12
  • Reliability12
  • Saturation12
  • Carbon nanotubes11
Lingua
  • eng4001
  • ita1139
  • fre31
  • spa26
  • rus8
  • ger6
  • und6
  • mul3
  • arm1
  • chi1
Accesso al fulltext
  • no fulltext5326
  • restricted600
  • open395
  • reserved195
  • partially open3
  • embargoed2