Experimental Study on the Reliability of Low Blocking Voltage Power VDMOSFET During Heavy Ion Exposure

Velardi, Francesco; Iannuzzo, Francesco; Busatto, Giovanni; Wyss, Jeffery; Sanseverino, Annunziata; Candelori, A.; Curro', G.; Cascio, A.; Frisina, F.

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Experimental Study on the Reliability of Low Blocking Voltage Power VDMOSFET During Heavy Ion Exposure / F. VELARDI; F. IANNUZZO; G. BUSATTO; J. WYSS; A. SANSEVERINO; A. CANDELORI; G. CURRO'; A. CASCIO; F. FRISINA. - (2004).

Titolo:	Experimental Study on the Reliability of Low Blocking Voltage Power VDMOSFET During Heavy Ion Exposure
Autori:	VELARDI, Francesco IANNUZZO, Francesco BUSATTO, Giovanni WYSS, JEFFERY SANSEVERINO, Annunziata A. CANDELORI G. CURRO' A. CASCIO F. FRISINA mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2004
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/13303
Appare nelle tipologie:	4.1 Contributo in Atti di convegno

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