Experimental Study on the Reliability of Low Blocking Voltage Power VDMOSFET During Heavy Ion Exposure / F. VELARDI; F. IANNUZZO; G. BUSATTO; J. WYSS; A. SANSEVERINO; A. CANDELORI; G. CURRO'; A. CASCIO; F. FRISINA. - (2004).
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Titolo: | Experimental Study on the Reliability of Low Blocking Voltage Power VDMOSFET During Heavy Ion Exposure |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2004 |
Handle: | http://hdl.handle.net/11580/13303 |
Appare nelle tipologie: | 4.1 Contributo in Atti di convegno |
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