IRIS

WYSS, JEFFERY

WYSS, JEFFERY  

Dipartimento di Ingegneria Civile e Meccanica  

Mostra records
Risultati 1 - 20 di 86 (tempo di esecuzione: 0.012 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Neutron-induced Single Event Effects Facility at the 70 MeV Cyclotron of LNL-INFN 1-gen-2012 Dario, Bisello; Juan, Esposito; Pierfrancesco, Mastinu; Serena, Mattiazzo; Gianfranco, Prete; Cesar Ceballos, Sanchez; Luca, Silvestrin; Francesco, Scantamburlo; Wyss, Jeffery
A new test methodology for an exhaustive study of single-event-effects on power MOSFETs 1-gen-2011 Busatto, Giovanni; D., Bisello; G., Currò; P., Giubilato; Iannuzzo, Francesco; S., Mattiazzo; D., Pantano; Sanseverino, Annunziata; L., Silvestrin; M., Tessaro; Velardi, Francesco; Wyss, Jeffery
A novel sensor for ion electron emission microscopy. 1-gen-2004 D., Bisello; M., DAL MASCHIO; P., Giubilato; A., Kaminsky; M., Nigro; D., Pantano; R., Rando; M., Tessaro; Wyss, Jeffery
A time-resolved IBICC experiment using the IEEM of the SIRAD facility 1-gen-2012 L., Silvestrin; D., Bisello; Busatto, Giovanni; P., Giubilato; Iannuzzo, Francesco; S., Mattiazzo; D., Pantano; Sanseverino, Annunziata; M., Tessaro; Velardi, Francesco; Wyss, Jeffery
Accelerated wear-out of ultra-thin gate oxides after irradiation 1-gen-2003 A., Cester; S., Cimino; A., Paccagnella; G., Ghibaudo; G., Ghidini; Wyss, Jeffery
Advanced proton imaging in computed tomography 1-gen-2015 Mattiazzo, S.; Bisello, D.; Giubilato, P.; Pantano, D.; Pozzobon, N.; Snoeys, W.; Wyss, Jeffery
An Experimental Classification of Drain and Gate Current Pulses in Low-Voltage Power MOSFETs During Radiation Exposure 1-gen-2002 Velardi, Francesco; Iannuzzo, Francesco; Busatto, Giovanni; Wyss, Jeffery; Sanseverino, Annunziata
ANEM: A rotating composite target to produce an atmospheric-like neutron beam at the LNL SPES facility 1-gen-2016 Acosta Urdaneta, Gabriela Carolina; Bisello, Dario; Esposito, Juan; Mastinu, Pierfrancesco; Prete, Gianfranco; Silvestrin, Luca; Wyss, Jeffery
ANEM: The future neutron production target for Single Event Effect studies at LNL 1-gen-2015 Acosta Urdaneta, G. C.; Bisello, D.; Esposito, J.; Mastinu, P.; Prete, G.; Silvestrin, L.; Wyss, Jeffery
Anomalous charge loss from floating-gate memory cells due to heavy ion irradiation 1-gen-2002 G., Cellere; A., Paccagnella; L., Larcher; A., Chimenton; Wyss, Jeffery; A., Candelori; A., Modelli
Calorimeter prototyping for the iMPACT project pCT scanner 1-gen-2019 Pozzobon, N.; Baruffaldi, F.; Bisello, D.; Bonini, C.; Di Ruzza, B.; Giubilato, P.; Mattiazzo, S.; Pantano, D.; Silvestrin, L.; Snoeys, W.; Wyss, J.
Charge Collection effiency of standard and oxygenated silicon microstrip detectors 1-gen-2002 I., Stavitsky; R., Rando; D., Bisello; N., Bacchetta; A., Candelori; A., Kaminsky; Wyss, Jeffery
Charge generation mechanisms in low-voltage power MOSFETs during radiation exposure 1-gen-2003 Velardi, Francesco; Iannuzzo, Francesco; Busatto, Giovanni; Wyss, Jeffery; A., Candelori
CMOS sensors in 90 nm fabricated on high resistivity wafers: Design concept and irradiation results 1-gen-2013 A., Rivetti; M., Battaglia; D., Bisello; M., Caselle; P., Chalmet; M., Costa; N., Demaria; P., Giubilato; Y., Ikemoto; K., Kloukinas; C., Mansuy; A., Marchioro; H., Mugnier; D., Pantano; A., Potenza; J., Rousset; L., Silvestrin; Wyss, Jeffery
CoolGAL: a Galinstan bathed Be fast neutron production target at the NEPIR facility 1-gen-2020 Alfonso Barrera, Rogelio; Bisello, Dario; Esposito, Juan; Mastinu, Pierfrancesco; Prete, Gianfranco; Silvestrin, Luca; Wyss, Jeffery
Detection Efficiency and Spatial Resolution of the SIRAD Ion Electron Emission Microscope 1-gen-2009 D., Bisello; P., Giubilato; A., Kaminsky; S., Mattiazzo; M., Nigro; D., Pantano; L., Silvestrin; M., Tessaro; Wyss, Jeffery; S., Bertazzoni; L., Mongiardo; M., Salmeri; A., Salsano
Effect of the Epitaxial Layer Features on the Reliability of Medium Blocking Voltage Power VDMOSFET during Heavy Ion Exposure 1-gen-2003 Velardi, Francesco; Iannuzzo, Francesco; Busatto, Giovanni; Wyss, Jeffery; Sanseverino, Annunziata; A., Candelori; G., Curr; A., Cascio; F., Frisina; A., Cavagnoli
Effects of heavy ion impact on power diodes 1-gen-1999 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Wyss, Jeffery; D., Pantano; D., Bisello
Effects of proton irradiation on glass filter substrates for the Rosetta mission 1-gen-2003 G., Naletto; A., Boscolo; Wyss, Jeffery; A., Quaranta
EFFETCS OF HEAVY ION IMPACT ON POWER DIODES 1-gen-1999 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Wyss, Jeffery; Pantano, D.; Bisello, D.