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Race-Control Algorithm for the Full-Bridge PRCP Converter Using Cost-Effective FPGAs 1-gen-2008 Iannuzzo, Francesco
Latent Damages in Gate Oxide of Medium Voltage Power MOSFET 1-gen-2008 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; A. PORZIO A., Sanseverino; Velardi, Francesco; A., Cascio; G., Currò; F., Frisina
Heavy Ions Induced Single Event Gate Damage in Medium Voltage Power MOSFET 1-gen-2008 Busatto, Giovanni; G., Currò; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Heavy ions induced single event gate damages in medium voltage power MOSFET 1-gen-2008 Busatto, Giovanni; G., Currò; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
A 3-D Simulation Study about SEGR in Medium Voltage Power MOSFET 1-gen-2008 A., Porzio; Velardi, Francesco; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; G., Currò
Non-Destructive Experimental Investigation about RBSOA in High Power IGBT Modules 1-gen-2008 Busatto, Giovanni; Abbate, C.; Abbate, B.; Iannuzzo, Francesco
A 3-D Simulation Study about Single Event Gate Damage in Medium Voltage Power MOSFET 1-gen-2008 A., Porzio; Velardi, Francesco; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; G., Currò
Instable Mechanisms During Unclamped Operation of High Power IGBT Modules 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; Abbate, Carmine; Iannuzzo, Francesco; P., Cristofaro
The effects of the stray elements on the failure of parallel connected IGBTs during Turn-Off 1-gen-2009 Abbate, C.; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco
Experimental Study of the Damages Created in the Gate Oxide of Medium Voltage Power MOSFET During Heavy Ions Irradiation 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; A. PORZIO A., Sanseverino; Velardi, Francesco; A., Cascio; G., Currò; F., Frisina
Induced Damages in Power MOSFETs after Heavy Ions Irradiation 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; G., Currò
Radiation effects on power semiconductor devices for distributed power systems for electromagnetic calorimeters (invited) 1-gen-2009 Abbate, C.; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Porzio, A.; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; Baccaro, S.
Radiation effects on power semiconductor devices for distributed power systems for electromagnetic calorimeters 1-gen-2009 Abbate, C.; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Porzio, A.; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; Baccaro, S.
The role of the charge generated during heavy ion irradiation in the gate damage of medium power MOSFET 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; G., Currò; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
The role of the charge generated during heavy ion irradiation in the gate damage of medium voltage power MOSFET 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; G., Currò; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Experimental study about gate oxide damages in patterned MOS capacitor irradiated with heavy ions 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; G., Currò; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Heavy-Ion Induced Single Event Gate Damage in Medium Voltage Power MOSFETs 1-gen-2009 Busatto, Giovanni; G., Currò; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Non Destructive SOA Testing of Power Modules (Invited) 1-gen-2010 Busatto, Giovanni; Abbate, Carmine; Iannuzzo, Francesco
IGBT RBSOA non-destructive testing methods: Analysis and discussion 1-gen-2010 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco
Experimental study and numerical investigation on the formation of single event gate damages induced on medium voltage power MOSFET 1-gen-2010 Busatto, Giovanni; G., Curro’; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
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