Gate Damages Induced in SiC Power MOSFETs During Heavy Ion Irradiation (Part II)
Carmine Abbate;Giovanni Busatto;Davide Tedesco;Francesco Velardi
;Annunziata Sanseverino;Jeffery Wyss
2019-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.