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4.1 Contributo in Atti di convegno: [6590] Home page tipologia

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 2.721 a 2.740 di 6.590
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Un sistema di misura basato su sensori magnetici per test non distruttivi 1-gen-1999 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., Federico
Identificazione di guasti su linee di trasmissione elettriche di potenza 1-gen-1998 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; S., Sangiovanni; E., Zappitelli
Miglioramento delle prestazioni di un sistema di misura basato su correnti parassite per il rilievo di difetti in materiali conduttori 1-gen-2001 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi
Sistema di misura basato su correnti parassite per test non distruttivi 1-gen-2000 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni
Microstructure evolution, creep damage mechanisms and life prediction of high chromium martensitic steel ASTM grades 91 and 92 1-gen-2008 Cipolla, L.; Lombardi, P.; Folgarait, P.; Di Gianfrancesco, A.; Bonora, Nicola; Esposito, L.; Cumino, G.; Caminada, S.
A continuum damage mechanics model for failure of metals in high temperature environment 1-gen-2008 Bonora, Nicola; L., Esposito
Primary creep modeling based on the dependence of the activation energy on the internal stress 1-gen-2010 L., Esposito; Bonora, Nicola
Damage development in high purity copper under varying dynamic conditions and microstructural states using continuum damage mechanics 1-gen-2009 Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Esposito, L.; Iannitti, G.
Ductile damage evolution assessment in high purity copper and stainless steel subjected to different shock-loading profiles using cohesive modeling 1-gen-2009 Ruggiero, Andrew; Bonora, Nicola; Esposito, L.; Gray III, G. T.
Minimum Volume Peeling: a Multivariate Mode Estimator 1-gen-2012 Porzio, Giovanni Camillo; G., Ragozini; S., Liebscher; T., Kirschstein
Approccio locale alla frattura fragile: studio sulla trsferibilità geometrica e sul ruolo del volume della zona di processo 1-gen-2006 L., Esposito; Ruggiero, Andrew; Bonora, Nicola
Continuum scale material modeling under large strain, strain rates and pressure incorporating microstructure effect 1-gen-2012 Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Iannitti, G.; Dichiaro, S.
Modeling ductile metals under large strain, pressure and high strain rate incorporating damage and microstructure evolution 1-gen-2012 Iannitti, G.; Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Dichiaro, S.
Ductile damage evolution in high purity copper taylor impact test 1-gen-2012 Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Iannitti, Gianluca; Testa, Gabriel
System voltage quality regulation for continuous disturbances 1-gen-2010 Bracale, A.; Carpinelli, G.; Caramia, P.; Verde, Paola; Chiumeo, R.; Tarsia, F.
A nonlinear Cosserat-Cauchy homogenization procedure for regularmasonry based on transformation field analysis 1-gen-2009 Daniela, Addessi; Achille, Paolone; Sacco, Elio
Nonlocal damage models: Displacement-based formulation 1-gen-2006 Marfia, Sonia; Jiràsek, M.
Regularized damage model based on nonlocal displacement field 1-gen-2005 Marfia, Sonia; Jiràsek, M.
MODELLAZIONE IN CAMPO NON LINEARE DI PANNELLI E PARETI IN MURATURA RINFORZATI CON FRP 1-gen-2010 Grande, Ernesto; Sacco, Elio
Expert Systems and Neural Networks for instrument fault detection and isolation 1-gen-1997 Betta, Giovanni; Dell'Isola, Marco; C., Liguori; A., Pietrosanto
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ...6589
  • 2 Contributo in Volume1
Autore
  • FERRIGNO, Luigi235
  • BETTA, Giovanni216
  • ATTAIANESE, Ciro212
  • CAPRIGLIONE, Domenico165
  • CECCARELLI, Marco160
  • MARIGNETTI, Fabrizio157
  • MAFFUCCI, Antonio153
  • ANTONELLI, Gianluca145
  • TOMASSO, Giuseppe128
  • IACOVIELLO, Francesco127
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa12
  • 2020 - 2026878
  • 2010 - 20192152
  • 2000 - 20092654
  • 1990 - 1999798
  • 1980 - 198992
  • 1977 - 19794
Editore
  • IEEE576
  • Institute of Electrical and Elect...247
  • -65
  • Springer60
  • Springer Science and Business Med...44
  • IMEKO41
  • IEEE Computer Society40
  • Elsevier B.V.36
  • AIM28
  • Elsevier27
Rivista
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