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4.1 Contributo in Atti di convegno: [6605] Home page tipologia

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 2.721 a 2.740 di 6.605
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Sistemi di misura basati su DSP per il rilievo e la diagnosi di guasti 1-gen-1995 Bernieri, Andrea; C., Liguori
Caratterizzazione e realizzazione di sensori 1-gen-1993 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Dell'Isola, Marco; A., Pietrosanto
Compensazione neurale degli errori nei convertitori A/D 1-gen-1996 A., Baccigalupi; Bernieri, Andrea; C., Liguori
Tecniche di misura per l'identificazione e la diagnosi di guasti in sistemi elettrici 1-gen-1993 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., D'Apuzzo; A., Pietrosanto
Stazioni di misura impieganti DSP in parallelo per la diagnostica su componenti e sistemi 1-gen-1996 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; C., Liguori
Rilievo e diagnosi di guasti in stazioni automatiche di misura 1-gen-1995 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni
Un sistema di misura basato su sensori magnetici per test non distruttivi 1-gen-1999 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., Federico
Identificazione di guasti su linee di trasmissione elettriche di potenza 1-gen-1998 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; S., Sangiovanni; E., Zappitelli
Caratterizzazione metrologica di algoritmi per l'elaborazione digitale di segnali 1-gen-1997 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; C., Liguori; A., Pietrosanto
Compensatore neurale per convertitori A/D impiegante un processore digitale di segnali 1-gen-1997 A., Baccigalupi; Bernieri, Andrea; C., Liguori
Strumento virtuale neurale per applicazioni diagnostiche 1-gen-2000 Bernieri, Andrea
Approccio neurale per la risoluzione di problemi di ambiguità nella localizzazione di guasti 1-gen-1997 Bernieri, Andrea
Miglioramento delle prestazioni di un sistema di misura basato su correnti parassite per il rilievo di difetti in materiali conduttori 1-gen-2001 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi
Sistema di misura basato su correnti parassite per test non distruttivi 1-gen-2000 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni
Microstructure evolution, creep damage mechanisms and life prediction of high chromium martensitic steel ASTM grades 91 and 92 1-gen-2008 Cipolla, L.; Lombardi, P.; Folgarait, P.; Di Gianfrancesco, A.; Bonora, Nicola; Esposito, L.; Cumino, G.; Caminada, S.
A continuum damage mechanics model for failure of metals in high temperature environment 1-gen-2008 Bonora, Nicola; L., Esposito
Primary creep modeling based on the dependence of the activation energy on the internal stress 1-gen-2010 L., Esposito; Bonora, Nicola
Ductile damage evolution assessment in high purity copper and stainless steel subjected to different shock-loading profiles using cohesive modeling 1-gen-2009 Ruggiero, Andrew; Bonora, Nicola; Esposito, L.; Gray III, G. T.
Damage development in high purity copper under varying dynamic conditions and microstructural states using continuum damage mechanics 1-gen-2009 Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Esposito, L.; Iannitti, G.
Approccio locale alla frattura fragile: studio sulla trsferibilità geometrica e sul ruolo del volume della zona di processo 1-gen-2006 L., Esposito; Ruggiero, Andrew; Bonora, Nicola
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ...6604
  • 2 Contributo in Volume1
Autore
  • FERRIGNO, Luigi236
  • BETTA, Giovanni216
  • ATTAIANESE, Ciro212
  • CAPRIGLIONE, Domenico166
  • CECCARELLI, Marco160
  • MARIGNETTI, Fabrizio158
  • MAFFUCCI, Antonio154
  • ANTONELLI, Gianluca145
  • TOMASSO, Giuseppe128
  • IACOVIELLO, Francesco127
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa12
  • 2020 - 2026892
  • 2010 - 20192153
  • 2000 - 20092654
  • 1990 - 1999798
  • 1980 - 198992
  • 1977 - 19794
Editore
  • IEEE576
  • Institute of Electrical and Elect...252
  • -65
  • Springer60
  • Springer Science and Business Med...44
  • IMEKO41
  • IEEE Computer Society40
  • Elsevier B.V.36
  • AIM28
  • Elsevier27
Rivista
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