Charge generation mechanisms in low-voltage power MOSFETs during radiation exposure

VELARDI, Francesco;IANNUZZO, Francesco;BUSATTO, Giovanni;WYSS, JEFFERY;
2003-01-01

2003
88-7337-004-7
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11580/4943
 Attenzione

Attenzione! I dati visualizzati non sono stati sottoposti a validazione da parte dell'ateneo

Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus ND
social impact