Single Event Effects in Power MOSFETs during Heavy Ion Irradiations Performed after Gamma Ray Degradation

BUSATTO, Giovanni;DE LUCA, Valentina;IANNUZZO, Francesco;SANSEVERINO, Annunziata;VELARDI, Francesco
2013-01-01

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Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11580/28861
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