Non_Destructive High Temperature Characterisation of High-Voltage IGBTs

Busatto, Giovanni; Cascone, B.; Fratelli, L.; Balsamo, M.; Iannuzzo, Francesco; Velardi, Francesco

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Non_Destructive High Temperature Characterisation of High-Voltage IGBTs / G. BUSATTO; B. CASCONE; L. FRATELLI; M. BALSAMO; F. IANNUZZO; F. VELARDI. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42(2002), pp. 1635-1640.

Titolo:	Non_Destructive High Temperature Characterisation of High-Voltage IGBTs
Autori:	BUSATTO, Giovanni B. CASCONE L. FRATELLI M. BALSAMO IANNUZZO, Francesco VELARDI, Francesco mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2002
Rivista:	MICROELECTRONICS RELIABILITY
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/12861
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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