Non_Destructive High Temperature Characterisation of High-Voltage IGBTs / G. BUSATTO; B. CASCONE; L. FRATELLI; M. BALSAMO; F. IANNUZZO; F. VELARDI. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 42(2002), pp. 1635-1640.
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Titolo: | Non_Destructive High Temperature Characterisation of High-Voltage IGBTs |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2002 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11580/12861 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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