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High Frequency Capacitive behavior of field stop trench gate IGBTs operating in Short Circuit 1-gen-2013 C., Ronsisvalle; H., Fischer; K. S., Park; Abbate, Carmine; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; Busatto, Giovanni
Instabilities in Silicon Power Devices: A Review of Failure Mechanisms in Modern Power Devices 1-gen-2014 Iannuzzo, Francesco; Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni
Developments on DC/DC converters for the LHC experiment upgrades 1-gen-2014 Abbate, Carmine; M., Alderighi; S., Baccaro; Busatto, Giovanni; M., Citterio; P., Cova; Belmonte, N.; V., De Luca; S., Fiore; S., Gerardin; E., Ghisolfi; F., Giuliani; Iannuzzo, Francesco; A., Lanza; S., Latorre; M., Lazzaroni; G., Meneghesso; A., Paccagnella; F., Rampazzo; M., Riva; Sanseverino, Annunziata; R., Silvestri; G., Spiazzi; Velardi, Francesco; E., Zanoni
Experimental and Numerical Study of Low and High Frequency Oscillations in IGBTs during Short Circuit . 1-gen-2014 Busatto, Giovanni; Abbate, Carmine; Sanseverino, Annunziata; C., Ronsisvalle
Mechanoluminescence of nylon under high velocity impact 1-gen-2014 Bonora, Nicola; Ruggiero, Andrew; Iannitti, Gianluca; Abbate, Carmine; Iannuzzo, Francesco; Busatto, Giovanni
Testing Integrated COTS DC/DC Converters in Hostile Environment 1-gen-2014 Abbate, Carmine; S., Baccaro; Busatto, Giovanni; M., Citterio; P., Cova; N., Delmonte; DE LUCA, Valentina; S., Fiore; F., Giuliani; Iannuzzo, Francesco; A., Lanza; S., Latorre; M., Lazzaroni; Sanseverino, Annunziata; G., Spiazzi; Velardi, Francesco
Thermal damage in SiC Schottky diodes induced by SE heavy ions 1-gen-2014 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; P., Cova; N., Delmonte; F., Giuliani; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Turn-off instabilities in large area IGBTs 1-gen-2014 Abbate, Carmine; Iannuzzo, Francesco; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; C., Ronsisvalle; J., Victory
Analysis of Heavy Ion Irradiation Induced Thermal Damage in SiC Schottky Diodes 1-gen-2015 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Cova, P.; Delmonte, N.; Giuliani, F.; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Analysis of Low- and High-Frequency Oscillations in IGBTs During Turn-ON Short Circuit 1-gen-2015 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; Ronsisvalle, Cesare
Experimental study of Single Event Effects induced by heavy ion irradiation in enhancement mode GaN power HEMT 1-gen-2015 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Mattiazzo, S.; Sanseverino, Annunziata; Silvestrin, L.; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
Measurement of IGBT High-Frequency Input Impedance in Short Circuit 1-gen-2017 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco; Iavarone, Sara; Ronsisvalle, Cesare
Experimental Study of the Instabilities Observed in 650 V Enhancement Mode GaN HEMT during Short Circuit 1-gen-2017 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, A.; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
Progressive Drain Damage in SiC Power MOSFETs Exposed to Ionizing Radiation 1-gen-2018 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco; Simona, Mattiazzo; Luca, Silvestin
Measure of High Frequency Input Impedance to Study the Instability of Power Devices in Short Circuit 1-gen-2018 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
Failure analysis of 650 V enhancement mode GaN HEMT after short circuit tests 1-gen-2018 Abbate, C.; Busatto, G.; Sanseverino, A.; Tedesco, D.; Velardi, F.
Gate Damages Induced in SiC Power MOSFETs During Heavy-Ion Irradiation--Part I 1-gen-2019 Abbate, C.; Busatto, G.; Tedesco, D.; Sanseverino, A.; Silvestrin, L.; Velardi, F.; Wyss, J.
Gate Damages Induced in SiC Power MOSFETs During Heavy Ion Irradiation (Part II) 1-gen-2019 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco; Sanseverino, Annunziata; Wyss, Jeffery
Failure mechanisms of enhancement mode GaN power HEMTs operated in short circuit 1-gen-2019 Abbate, C.; Busatto, G.; Sanseverino, A.; Tedesco, D.; Velardi, F.
Analysis of Current in Pulsating DC Link Converter with Zero Voltage Transition 1-gen-2020 Marciano, Daniele; Busatto, Giovanni; Abbate, Carmine; Sanseverino, Annunziata; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
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