CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishExperimental and numerical investigation on MOSFET’s failure during reverse recovery of its internal diode / G. BUSATTO; PERSIANO G.V.; IANNUZZO F.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - ED-46(1999), pp. 1268-1273.
| Titolo: | Experimental and numerical investigation on MOSFET’s failure during reverse recovery of its internal diode |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11580/12793 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11580/12793
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