ION ELECTRON EMISSION MICROSCOPY AT THE SIRAD SINGLE EVENT FACILITY

Bisello, D.; Kaminsky, A.; Magalini, A.; Nigro, M.; Pantano, D.; Sedykh, S.; Wyss, Jeffery

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ION ELECTRON EMISSION MICROSCOPY AT THE SIRAD SINGLE EVENT FACILITY / BISELLO D.; KAMINSKY A.; MAGALINI A.; NIGRO M.; PANTANO D.; SEDYKH S.; J. WYSS. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - B 181(2001), pp. 254-257.

Titolo:	ION ELECTRON EMISSION MICROSCOPY AT THE SIRAD SINGLE EVENT FACILITY
Autori:	BISELLO D. KAMINSKY A. MAGALINI A. NIGRO M. PANTANO D. SEDYKH S. WYSS, JEFFERY mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2001
Rivista:	NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/9377
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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