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EnglishION ELECTRON EMISSION MICROSCOPY AT THE SIRAD SINGLE EVENT FACILITY / BISELLO D.; KAMINSKY A.; MAGALINI A.; NIGRO M.; PANTANO D.; SEDYKH S.; J. WYSS. - In: NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT. - ISSN 0168-9002. - B 181(2001), pp. 254-257.
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| Titolo: | ION ELECTRON EMISSION MICROSCOPY AT THE SIRAD SINGLE EVENT FACILITY |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2001 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11580/9377 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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