Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements

Daliento, S.; Rinaldi, N.; Sanseverino, Annunziata; Spirito, P.

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Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements / S. DALIENTO; N. RINALDI; A. SANSEVERINO; P. SPIRITO. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 42/1(1995), pp. 1924-1995.

Titolo:	Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements
Autori:	S. DALIENTO N. RINALDI SANSEVERINO, Annunziata P. SPIRITO mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1995
Rivista:	IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/8939
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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