CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishTwo Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements / S. DALIENTO; N. RINALDI; A. SANSEVERINO; P. SPIRITO. - In: IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES. - ISSN 0018-9383. - 42/1(1995), pp. 1924-1995.
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http://hdl.handle.net/11580/8939| Titolo: | Two Dimensional Analysis of a Test Structure for Lifetime Profile Measurements |
| Autori interni: | SANSEVERINO, Annunziata |
| Data di pubblicazione: | 1995 |
| Rivista: | IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11580/8939 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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