Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements

Daliento, S.; Sanseverino, Annunziata; Sarro, P. M.; Spirito, P.; Zeni, L.

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Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements / S. DALIENTO; A. SANSEVERINO; P.M. SARRO; P. SPIRITO; L. ZENI. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - 17/3(1998), pp. 148-150.

Titolo:	Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements
Autori:	S. DALIENTO SANSEVERINO, Annunziata P. M. SARRO P. SPIRITO L. ZENI mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	1998
Rivista:	IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/8936
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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