Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements / S. DALIENTO; A. SANSEVERINO; P.M. SARRO; P. SPIRITO; L. ZENI. - In: IEEE ELECTRON DEVICE LETTERS. - ISSN 0741-3106. - 17/3(1998), pp. 148-150.
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Titolo: | Recombination Centers Identification in Very Thin Silicon Epitaxial Layers via Lifetime Measurements |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1998 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11580/8936 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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