CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishA Measurement Method of the Ideal I-V Characteristic of Diodes Up to the Built-in Voltage Limit / S. BELLONE; S. DALIENTO; A. SANSEVERINO. - In: SOLID-STATE ELECTRONICS. - ISSN 0038-1101. - 43(1999), pp. 1201-1207.
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| Titolo: | A Measurement Method of the Ideal I-V Characteristic of Diodes Up to the Built-in Voltage Limit |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 1999 |
| Rivista: | |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11580/8930 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11580/8930
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