Neutron irradiation effects on standard and oxygenated silicon diodes

Rando, R.; Candelori, A.; Bisello, D.; Kaminsky, A.; Litovchenko, A.; Pantano, D.; Stavitsky, I.; Wyss, Jeffery

CINECA IRIS Institutional Research Information System

IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.

Neutron irradiation effects on standard and oxygenated silicon diodes / R.RANDO; A.CANDELORI; D.BISELLO; A.KAMINSKY; A.LITOVCHENKO; D.PANTANO; I.STAVITSKY; J. WYSS. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 49(2002), pp. 1027-1034.

Titolo:	Neutron irradiation effects on standard and oxygenated silicon diodes
Autori:	R. RANDO A. CANDELORI D. BISELLO A. KAMINSKY A. LITOVCHENKO D. PANTANO I. STAVITSKY WYSS, JEFFERY mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2002
Rivista:	IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/8178
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

File in questo prodotto:

Non ci sono file associati a questo prodotto.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11580/8178

Citazioni

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.