RADIATION DAMAGE OF STANDARD AND OXYGENATED SILICON DIODES IRRADIATIED BY 16-MEV AND 27-MEV PROTONS / BISELLO D.; J. WYSS; CANDELORI A.; KAMINSKY A.; PANTANO D.. - In: IEEE TRANSACTIONS ON NUCLEAR SCIENCE. - ISSN 0018-9499. - 48, N.4(2001), pp. 1020-1027.
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Titolo: | RADIATION DAMAGE OF STANDARD AND OXYGENATED SILICON DIODES IRRADIATIED BY 16-MEV AND 27-MEV PROTONS |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 2001 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11580/8173 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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