Long term Reliability Testing of HV-IGBT modules in worst case traction operation / L. FRATELLI; B. CASCONE; G. GIANNINI; G. BUSATTO. - In: MICROELECTRONICS RELIABILITY. - ISSN 0026-2714. - 39(1999), pp. 1137-1142.
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Titolo: | Long term Reliability Testing of HV-IGBT modules in worst case traction operation |
Autori: | |
Data di pubblicazione: | 1999 |
Rivista: | |
Handle: | http://hdl.handle.net/11580/7765 |
Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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