4.1 Contributo in Atti di convegno: [6608] Home page tipologia

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Prodotti della tipologia (ordinati per Data di deposito in Decrescente ordine): 4.361 a 4.380 di 6.608
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Experimental and 3D simulation study on the role of Parasitic BJT Activation in SEB/SEGR of Power Mosfet 1-gen-2005 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; A., Porzio; Sanseverino, Annunziata; Velardi, Francesco
Prime sperimentazioni nel laboratorio di compatibilità elettromagnetica dell’Università di Cassino 1-gen-2002 Capriglione, Domenico
Real-time implementation of ifdia scheme in automotive system 1-gen-2004 Capriglione, Domenico; C., Liguori; A., Pietrosanto
Plasma dry etching for selective emitter formation in crystalline silicon based solar cell 1-gen-2008 M., Tucci; L., Serenelli; A., DEL BONO; M., Izzi; L., Pirozzi; P., Martufi; Sanseverino, Annunziata
Influenza Delle Tecnologie Wireless A Corto Raggio Sulle Performance Dei Sistemi Di Misura: Considerazioni Preliminari 1-gen-2005 Betta, Giovanni; Capriglione, Domenico; Ferrigno, Luigi; Miele, Gianfranco
On-Line Sensor Fault Detection, Isolation, And Accomodation in Automotive Engines 1-gen-2002 Capriglione, Domenico; C., Liguori; C., Pianese; A., Pietrosanto
Experimental and Numerical Investigation about SEB/SEGR of Power MOSFET 1-gen-2005 Busatto, Giovanni; A., Porzio; Velardi, Francesco; Iannuzzo, Francesco; Sanseverino, Annunziata; G., Curr
Analisi delle prestazioni di nano-interconnessioni realizzate con bundle di nanotubi al carbonio 1-gen-2007 Chiariello, A. G.; Maffucci, Antonio; Miano, G; Villone, F; Zamboni, W.
Didattica, tecnologie ed apprendimento: analisi e prospettive 1-gen-2002 Cartelli, Antonio
Efficient Evaluation of the Frequency-Dependent Impedance Matrix of Full-Package Structures 1-gen-2010 A. G., Chiariello; A., Girardi; C., Iorio; R., Izzi; T., Lessio; Maffucci, Antonio
Formulazione integrale superficiale per la simulazione Full-wave di interconnessioni planari 1-gen-2007 Assante, D; Chiariello, A. G.; Maffucci, Antonio; Miano, G; Rubinacci, G; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; Villone, F; Zamboni, W.
Didactics and Web Technologies: a Proposal for the Monitoring of the Didactic Process 1-gen-2003 Cartelli, Antonio
MODELLI ELETTROMAGNETICI AGLI ELEMENTI FINITI PER LE NANOAPPLICAZIONI 1-gen-2007 Maffucci, Antonio; G., Miano; G., Rubinacci; A., Tamburino; Villone, Fabio; W., Zamboni
Electrical and Thermal Behaviour of Nanopackaging Interconnects with Conventional and Innovative Materials 1-gen-2010 A. G., Chiariello; Maffucci, Antonio; G., Miano
Web Technologies and Sciences Epistemologies 1-gen-2002 Cartelli, Antonio
A Full-Wave Model for the Analysis of the High-Frequency Behavior of Open Interconnect Structures 1-gen-2003 S., Falco; Maffucci, Antonio; G., Miano; L., Verolino; Villone, Fabio
Tecniche per migliorare le prestazioni in termini di signal integrity di board per il test di memorie flash 1-gen-2008 Chiariello, A. G.; Leonetti, C; Maffucci, Antonio; Miano, G.
Identification of a Spice Reduced-Order Model for Lossy Interconnects from Terminal Behavior 1-gen-2003 M., DE MAGISTRIS; Maffucci, Antonio
ACCURATE IDENTIFICATION OF LONG INTERCONNECTS WITH THE GENERALIZED METHOD OF CHARACTERISTICS 1-gen-2005 M., DE MAGISTRIS; L., DE TOMMASI; Maffucci, Antonio; G., Miano
A simple model for estimation of radiation loss in high-frequency interconnects with homogeneous dielectric 1-gen-2004 Maffucci, Antonio; G., Miano; Villone, Fabio
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ...6607
  • 2 Contributo in Volume1
Autore
  • FERRIGNO, Luigi236
  • BETTA, Giovanni216
  • ATTAIANESE, Ciro212
  • CAPRIGLIONE, Domenico166
  • CECCARELLI, Marco160
  • MARIGNETTI, Fabrizio158
  • MAFFUCCI, Antonio154
  • ANTONELLI, Gianluca145
  • TOMASSO, Giuseppe128
  • IACOVIELLO, Francesco127
Data di pubblicazione
  • In corso di stampa12
  • 2020 - 2026895
  • 2010 - 20192153
  • 2000 - 20092654
  • 1990 - 1999798
  • 1980 - 198992
  • 1977 - 19794
Editore
  • IEEE576
  • Institute of Electrical and Elect...252
  • -65
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  • Springer Science and Business Med...44
  • IMEKO41
  • IEEE Computer Society40
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Rivista
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