IRIS
RicercaInizia una nuova ricerca

NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

cerca in
Risultati 101 - 110 di 112 (tempo di esecuzione: 0.021 secondi).
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Un sistema di misura per la stima della vita residua di lampade a vapori di sodio ad alta pressione per illuminazione stradale 1-gen-2006 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Laracca, Marco; Liguori, C.
Una analisi dell'efficienza del prelievo di energia elettrica attiva in regime non sinusoidale 1-gen-2010 Bernieri, Andrea; Ferrigno, Luigi; C., Landi; Laracca, Marco
Una procedura automatica di autotaratura e calibrazione per Migliorare l’incertezza di misura di magnetometri GMR 1-gen-2007 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
Una sonda multisensore per test non distruttivi su materiali conduttori 1-gen-2002 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
Uno strumento Add-on per la taratura remota dei contatori di energia elettrica 1-gen-2009 Amicone, D; Bernieri, Andrea; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
Using a Recursive Algorithm for Fault Detection in Electrical Systems 1-gen-1991 Bernieri, Andrea; D'Apuzzo, M.
UTILIZZO DI SEGNALI DI ECCITAZIONE COMPLESSI IN SISTEMI ECT 1-gen-2013 Betta, Giovanni; Bernieri, Andrea; P., Burrascano; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco; M., Ricci
Utilizzo di segnali di eccitazione complessi per l'esecuzione affidabile di test non distruttivi con correnti indotte 1-gen-2014 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
Utilizzo di tecniche multifrequenza per la misura di difetti sottili in materiali conduttori 1-gen-2012 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Capriglione, Domenico; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco; Miele, Gianfranco
Utilizzo di tecniche SVM per la ricostruzione di difetti in test non distruttivi su materiali conduttori 1-gen-2006 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
Risultati 101 - 110 di 112 (tempo di esecuzione: 0.021 secondi).
↑ Back to top
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile

Aggiungere filtri:  
Aggiungi
Opzioni
Scopri
Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 112
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 112
Autore
  • BETTA, Giovanni 74
  • FERRIGNO, Luigi 59
  • LARACCA, Marco 55
  • CAPRIGLIONE, Domenico 14
  • MIELE, Gianfranco 9
  • RASILE, Antonio 7
  • DELL'ISOLA, Marco 6
  • FICCO, Giorgio 4
  • VIGO, Paolo 4
  • CERRO, Gianni 3
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 3
  • 2010 - 2019 37
  • 2000 - 2009 33
  • 1990 - 1999 37
  • 1985 - 1989 2
Editore
  • GMEE 25
  • IEEE 24
  • IMEKO 14
  • ARACNE editrice S.r.l. 4
  • AESSE Grafica srls 3
  • Università degli Studi di Trento 3
  • Acta Press 2
  • CLEUP 2
  • CLUT 2
  • Institute of Electrical and Elect... 2
Serie
  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGIN... 2
Keyword
  • Measurement 4
  • Calibration 3
  • Defect detection 2
  • Eddy current test 2
  • GMR sensor 2
  • Non destructive test 2
  • Cellular Base Station 1
  • Data processing 1
  • Data Fusion 1
  • defect depth estimation 1
Lingua
  • eng 63
  • ita 54
Accesso al fulltext
  • no fulltext 109
  • restricted 2
  • reserved 1