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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Stazioni di misura impieganti DSP in parallelo per la diagnostica su componenti e sistemi 1-gen-1996 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; C., Liguori
Strumento virtuale neurale per applicazioni diagnostiche 1-gen-2000 Bernieri, Andrea
SVM-based approach for instrument fault accommodation in automotive systems 1-gen-2005 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Capriglione, Domenico; Molinara, Mario
Tecniche di misura per l'identificazione e la diagnosi di guasti in sistemi elettrici 1-gen-1993 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., D'Apuzzo; A., Pietrosanto
Test non distruttivi a correnti indotte: caratterizzazione metrologica dei difetti mediante analisi automatica del piano delle impedenze 1-gen-2016 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; D’Angelo, G.; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco; Rampone, S.
Test non distruttivi basati su ultrasuoni per la verifica della integrità dei tiranti per l’ancoraggio delle rocce 1-gen-2016 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
The Metrological Characterization and Optimization of a Low Cost Measurement System for Inductance Tomography on Conductive Materials 1-gen-2004 Bernieri, Andrea; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco; Ventre, Salvatore
Ultrasonic non destructive testing on aluminium forged bars 1-gen-2017 Bernieri, A.; Ferrigno, L.; Laracca, M.; Rasile, A.; Ricci, M.
Un metodo basato sulla elaborazione delle immagini per la ricostruzione rapida di difetti bidimensionali nei test non distruttivi basati su eddy current 1-gen-2015 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; Ferrigno, Luigi; Laracca, Marco
Un sistema di misura basato su sensori magnetici per test non distruttivi 1-gen-1999 Bernieri, Andrea; Betta, Giovanni; M., Federico
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 112
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Autore
  • BETTA, Giovanni 74
  • FERRIGNO, Luigi 59
  • LARACCA, Marco 55
  • CAPRIGLIONE, Domenico 14
  • MIELE, Gianfranco 9
  • RASILE, Antonio 7
  • DELL'ISOLA, Marco 6
  • FICCO, Giorgio 4
  • VIGO, Paolo 4
  • CERRO, Gianni 3
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 3
  • 2010 - 2019 37
  • 2000 - 2009 33
  • 1990 - 1999 37
  • 1985 - 1989 2
Editore
  • GMEE 25
  • IEEE 24
  • IMEKO 14
  • ARACNE editrice S.r.l. 4
  • AESSE Grafica srls 3
  • Università degli Studi di Trento 3
  • Acta Press 2
  • CLEUP 2
  • CLUT 2
  • Institute of Electrical and Elect... 2
Serie
  • LECTURE NOTES IN ELECTRICAL ENGIN... 2
Keyword
  • Measurement 4
  • Calibration 3
  • Defect detection 2
  • Eddy current test 2
  • GMR sensor 2
  • Non destructive test 2
  • Cellular Base Station 1
  • Data processing 1
  • Data Fusion 1
  • defect depth estimation 1
Lingua
  • eng 63
  • ita 54
Accesso al fulltext
  • no fulltext 109
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  • reserved 1