DI PASQUALE, Antonio
 Distribuzione geografica
Continente #
EU - Europa 41
NA - Nord America 18
AS - Asia 4
Totale 63
Nazione #
US - Stati Uniti d'America 18
IE - Irlanda 12
IT - Italia 10
SE - Svezia 8
FR - Francia 5
DE - Germania 2
SG - Singapore 2
UA - Ucraina 2
BE - Belgio 1
CN - Cina 1
LU - Lussemburgo 1
MY - Malesia 1
Totale 63
Città #
Dublin 12
Chandler 4
Milan 4
Rome 3
Ashburn 2
Boardman 2
Salerno 2
Singapore 2
Ann Arbor 1
Brooklyn 1
Brussels 1
Chengdu 1
Lawrence 1
Luxembourg 1
Princeton 1
San Francisco 1
Totale 39
Nome #
Physical mechanisms for gate damage induced by heavy ions in SiC power MOSFET 71
Totale 71
Categoria #
all - tutte 359
article - articoli 0
book - libri 0
conference - conferenze 0
curatela - curatele 0
other - altro 0
patent - brevetti 0
selected - selezionate 0
volume - volumi 0
Totale 359


Totale Lug Ago Sett Ott Nov Dic Gen Feb Mar Apr Mag Giu
2020/202110 0 0 0 0 6 1 0 1 0 1 0 1
2021/20228 0 0 0 1 1 0 0 0 3 0 1 2
2022/202332 2 4 1 1 1 9 0 1 13 0 0 0
2023/202417 1 1 2 0 4 3 3 0 1 0 0 2
2024/20254 0 0 1 1 2 0 0 0 0 0 0 0
Totale 71