Broad-band Characterization of Wire Interconnects Using a Surface  Integral Formulation with a Surface Effective Impedance

Maffucci, Antonio; Rubinacci, G; Ventre, Salvatore; Villone, Fabio; Zamboni, W.

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A surface integral formulation is used for a broad-band characterization of wire interconnects. A suitable definition of effective impedance accounts for the penetration of currents and charges inside lossy conductors. The results are successfully compared to a volumetric integral approach.

Titolo:	Broad-band Characterization of Wire Interconnects Using a Surface Integral Formulation with a Surface Effective Impedance
Autori:	MAFFUCCI, Antonio RUBINACCI G VENTRE, Salvatore VILLONE, Fabio ZAMBONI W. mostra contributor esterni nascondi contributor esterni
Data di pubblicazione:	2008
Rivista:	APPLIED COMPUTATIONAL ELECTROMAGNETICS SOCIETY JOURNAL
Abstract:	A surface integral formulation is used for a broad-band characterization of wire interconnects. A suitable definition of effective impedance accounts for the penetration of currents and charges inside lossy conductors. The results are successfully compared to a volumetric integral approach.
Handle:	http://hdl.handle.net/11580/9349
Appare nelle tipologie:	1.1 Articolo in rivista

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