CINECA IRIS Institutional Research Information System
IRIS è la soluzione IT che facilita la raccolta e la gestione dei dati relativi alle attività e ai prodotti della ricerca. Fornisce a ricercatori, amministratori e valutatori gli strumenti per monitorare i risultati della ricerca, aumentarne la visibilità e allocare in modo efficace le risorse disponibili.
EnglishA surface integral formulation is used for a broad-band characterization of wire interconnects. A suitable definition of effective impedance accounts for the penetration of currents and charges inside lossy conductors. The results are successfully compared to a volumetric integral approach.
| Titolo: | Broad-band Characterization of Wire Interconnects Using a Surface Integral Formulation with a Surface Effective Impedance |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2008 |
| Rivista: | |
| Abstract: | A surface integral formulation is used for a broad-band characterization of wire interconnects. A suitable definition of effective impedance accounts for the penetration of currents and charges inside lossy conductors. The results are successfully compared to a volumetric integral approach. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11580/9349 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento:
http://hdl.handle.net/11580/9349
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.
Copyright © 2020