CINECA IRIS Institutional Research Information System
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EnglishA method to evaluate the positions of the short circuit to obtain a stable offset short calibration in an arbitrarily large frequency range is presented. The method is tested by evaluating the permittivity of a sample of fibreglass placed in a waveguide using the Von Hippel method.
| Titolo: | Large-band offset-short calibration procedure for vector network analyzers |
| Autori: | |
| Data di pubblicazione: | 2003 |
| Rivista: | |
| Abstract: | A method to evaluate the positions of the short circuit to obtain a stable offset short calibration in an arbitrarily large frequency range is presented. The method is tested by evaluating the permittivity of a sample of fibreglass placed in a waveguide using the Von Hippel method. |
| Handle: | http://hdl.handle.net/11580/5776 |
| Appare nelle tipologie: | 1.1 Articolo in rivista |
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http://hdl.handle.net/11580/5776
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