A method to evaluate the positions of the short circuit to obtain a stable offset short calibration in an arbitrarily large frequency range is presented. The method is tested by evaluating the permittivity of a sample of fibreglass placed in a waveguide using the Von Hippel method.

Large-band offset-short calibration procedure for vector network analyzers

MIGLIORE, Marco Donald
2003

Abstract

A method to evaluate the positions of the short circuit to obtain a stable offset short calibration in an arbitrarily large frequency range is presented. The method is tested by evaluating the permittivity of a sample of fibreglass placed in a waveguide using the Von Hippel method.
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