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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.

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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Reliable 3D 1D1R-1R1D solution for victim layers in monolithic RRAM integration 1-gen-2020 Lahbacha, K.; Zayer, F.; Dghais, W.; Maffucci, A.; Belgacem, H.
RF Measurements for Future Communication Applications: an Overview 1-gen-2022 Allal, D.; Bannister, R.; Buisman, K.; Capriglione, D.; Di Capua, G.; Garcia-Patron, M.; Gatzweiler, T.; Gellersen, F.; Harzheim, T.; Heuermann, H.; Hoffmann, J.; Izbrodin, A.; Kuhlmann, K.; Lahbacha, K.; Maffucci, A.; Miele, G.; Mubarak, F.; Salter, M.; Pham, T. D.; Sayegh, A.; Singh, D.; Stein, F.; Zeier, M.
Semi-Classical Modelling of the Electron Transport in Carbon Nanotubes and Graphene Nanoribbons for THz Range Applications 1-gen-2015 Maffucci, Antonio
Sensitivity analysis in dynamic WPT systems based on non-intrusive stochastic methods 1-gen-2021 Lagouanelle, P.; Di Capua, G.; Femia, N.; Freschi, F.; Maffucci, A.; Pichon, L.; Ventre, S.
Signal Integrity Analysis of Carbon Nanotube on-chip Interconnects 1-gen-2009 Chiariello, A. G.; Maffucci, Antonio; Miano, G.
Signal Integrity Analysis of Carbon-Based On-chip Nano-Interconnects 1-gen-2012 A. G., Chiariello; Maffucci, Antonio; G., Miano
Signal Integrity Analysis of Coupled Thin-Film Microstrip Lines (TFMSLs) 1-gen-2023 Lahbacha, K.; Di Capua, G.; Miele, G.; Maffucci, A.; Pham, T. D.; Allal, D.; Phung, G. N.; Arz, U.
SIGNAL INTEGRITY ANALYSIS OF HIGH-SPEED INTERCONNECTS THROUGH A FULL-WAVE TRANSMISSION LINE MODEL 1-gen-2005 A., Chiariello; Maffucci, Antonio; G., Miano; Villone, Fabio; W., Zamboni
Simulation of Nonlinear Evolution Equations via Cellular Networks 1-gen-1999 Corti, L; DE MAGISTRIS, M; Maffucci, Antonio; Miano, G; Serpico, C; Verolino, L; Visone, C.
Size and Temperature Effects on the Resistance of Copper and Carbon Nanotubes Nano-interconnects 1-gen-2010 Chiariello, Andrea Gaetano; Maffucci, Antonio; G., Miano
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Autore
  • VILLONE, Fabio 37
  • VENTRE, Salvatore 23
  • TAMBURRINO, Antonello 21
  • CHIARIELLO, Andrea Gaetano 11
  • MICCIULLA, Federico 11
  • FERRIGNO, Luigi 10
  • DI CAPUA, Giulia 7
  • VENTO, Antonio 7
  • CAPRIGLIONE, Domenico 6
  • PERROTTA, Antea 6
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2023 20
  • 2010 - 2019 76
  • 2000 - 2009 67
  • 1997 - 1999 9
Editore
  • IEEE 55
  • Institute of Electrical and Elect... 12
  • IEEE Press 5
  • INFN-LNF 4
  • IEEE Publications 3
  • Swiss federal Institute of Techno... 3
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  • Comitato Scientifico della XXVII ... 2
  • Comitato Scientifico della XXX Ri... 2
  • EMC Europe 2
Rivista
  • PROCEEDINGS OF THE ... IEEE CONFE... 2
Serie
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  • carbon nanotubes 5
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Lingua
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Accesso al fulltext
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