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NOTA: è possibile cercare una corrispondenza esatta usando i doppi apici, ad es: "evoluzione della specie". Qualora si cerchi un identificativo, è consigliabile cercarlo in due modi differenti: tra apici con caratteri speciali es: "978-94-6366-274" oppure senza caratteri speciali solo come sequenza numerica: es 978946366274.
An integral computational model for crack simulation and detection via eddy currents
1999-01-01 Albanese, R.; Rubinacci, G.; Villone, Fabio
An Intelligent FFT-Analyzer
1998-01-01 Betta, Giovanni; D'Apuzzo, M.; Liguori, C.; Pietrosanto, A.
An optical fiber based technique for continuous level sensing
1995-01-01 Betta, Giovanni; Ippolito, L.; Pietrosanto, A.; Scaglione, A.
An Optical Technique to Measure the Bulk Lifetime and the Surface Recombination Velocity in Silicon Samples Based on a Laser Diode Probe System
1998-01-01 A., Cutolo; S., Daliento; Sanseverino, Annunziata; G. F., Vitale
Analisi del comportamento dell'idrogeno nell'acciaio inossidabile austeno-ferritico 22 Cr 5 Ni
1996-01-01 Iacoviello, Francesco
Analisi della suscettibilità alla corrosione intergranulare mediante prove di reattivazione potenziocinetica di un acciaio inossidabile austeno-ferritico 22 Cr 5 Ni in soluzione acquosa di H2SO4
1999-01-01 Iacoviello, Francesco; L., Jaresovà; C., Dagbert
Analisi Termodinamica ed Economica di Impianti di Cogenerazione di Piccola e Media Taglia nell'Industria
1995-01-01 Dell'Isola, Marco; M., Dentice D'accadia; A., Palombo; R., Vanoli
Analysing the stability of demand-for-money equations
1990-01-01 Furno, Marilena; Cristopher, Baum
Analysis of the T-cell receptor beta-chain variable-region (V beta) repertoire in monozygotic twins discordant for human immunodeficiency virus: evidence for perturbations of specific V beta segments in CD4+ T cells of the virus-positive twins.
1994-01-01 Rebai, N; Pantaleo, G; Demarest, Jf; Ciurli, C; Soudeyns, H; Adelsberger, Jw; Vaccarezza, Mauro; Walker, Re; Sekaly, Rp; Fauci, As
Analysis of thick bimodular composite plates using an energy-based constitutive model
1991-01-01 Sacco, Elio; J. N., Reddy
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- 1 Contributo su Rivista 1283
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Data di pubblicazione
- 1999 213
- 1998 189
- 1997 180
- 1996 165
- 1995 132
- 1994 112
- 1993 88
- 1992 76
- 1991 71
- 1990 57
Editore
- IEEE / Institute of Electrical an... 50
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- Gruppo UGO Mursia:via M Gioia 45,... 17
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