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Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
A Comparative study of Finite-Element Models for Magneto Optic Imaging Applications 1-gen-2001 R., Albanese; G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; Villone, Fabio; L., Xuan; B., Shanker; L., Udpa; S. S., Udpa; I., Elshafiey
A computational technique for automated recognition of subsurface cracks in aeronautical structures 1-gen-2004 G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; F., Villone; M., Morozov
A decay time approach for linear measurement of electrical conductivity 1-gen-2019 Ye, C.; Su, Z.; Rosell, A.; Udpa, L.; Udpa, S.; Capobianco, T.; Tamburrino, A.
A differential formulation based on a perturbative approach to solve the ECT inverse problem 1-gen-1999 G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore
A Distributed Object Oriented Approach to Electromagnetic Nondestructive Testing 1-gen-1999 M., Cioffi; G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore
A fast 3-D multipole method for eddy-current computation 1-gen-2004 Rubinacci, G.; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; Villone, Fabio
A fast 3D eddy current integral formulation 1-gen-2001 R., Albanese; G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; Villone, Fabio
A Fast Algorithm for Solving 3-D Eddy CurrentProblems with Integral Formulations 1-gen-2001 G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; Villone, Fabio
A fast computation method for the analysis of an array of metallic nanoparticles 1-gen-2009 L., DAL NEGRO; G., Miano; G., Rubinacci; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore
A Fast ECT Measurement Method for the Thickness of Metallic Plates 1-gen-2022 Sardellitti, Alessandro; DI CAPUA, Giulia; Laracca, Marco; Tamburrino, Antonello; Ventre, Salvatore; Ferrigno, Luigi
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Tipologia
  • 4 Contributo in Atti di Convegno ... 114
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Autore
  • VENTRE, Salvatore 154
  • VILLONE, Fabio 32
  • MAFFUCCI, Antonio 25
  • RUBINACCI, Guglielmo 13
  • FERRIGNO, Luigi 12
  • GIOVINCO, Gaspare 10
  • VENTO, Antonio 10
  • MARIGNETTI, Fabrizio 7
  • PERROTTA, Antea 7
  • PISCITELLI, Gianpaolo 5
Data di pubblicazione
  • 2020 - 2024 20
  • 2010 - 2019 107
  • 2000 - 2009 128
  • 1995 - 1999 20
Editore
  • IOS Press 31
  • Ios Press 9
  • IEEE 7
  • IEEE / Institute of Electrical an... 5
  • AMSTERDAM, NETHERLANDS: IOS PRESS... 4
  • Institute of Electrical and Elect... 3
  • American Institute of Physics 2
  • IEEE Press 2
  • NA 2
  • -Washington, DC: Optical Society ... 1
Rivista
  • IEEE TRANSACTIONS ON MAGNETICS 34
  • INTERNATIONAL JOURNAL OF APPLIED ... 18
  • NDT & E INTERNATIONAL 9
  • INVERSE PROBLEMS 7
  • COMPEL 6
  • IEEE TRANSACTIONS ON ANTENNAS AND... 4
  • IEEE SENSORS JOURNAL 3
  • APPLIED COMPUTATIONAL ELECTROMAGN... 2
  • IEEE TRANSACTIONS ON INSTRUMENTAT... 2
  • JOURNAL OF MODERN OPTICS 2
Serie
  • STUDIES IN APPLIED ELECTROMAGNETI... 16
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 5
  • STUDIES IN APPLIED ELECTROMAGNETI... 2
  • AIP CONFERENCE PROCEEDINGS 1
  • FRONTIERS IN ARTIFICIAL INTELLIGE... 1
Keyword
  • inverse problems 6
  • Nondestructive examination 5
  • Eddy current testing 4
  • Eddy currents 4
  • integral equations 4
  • eddy current 3
  • Eddy Current Testing 3
  • Electrical resistance tomography 3
  • Electromagnetic scattering 3
  • GMR 3
Lingua
  • eng 226
  • ita 4
Accesso al fulltext
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