Single Event Effects in Power MOSFETs during Heavy Ion Irradiations Performed after Gamma Ray Degradation

BUSATTO, Giovanni;DE LUCA, Valentina;IANNUZZO, Francesco;SANSEVERINO, Annunziata;VELARDI, Francesco
2013-01-01

File in questo prodotto:
File Dimensione Formato  
Single-Event_Effects_in_Power_MOSFETs_During_Heavy_Ion_Irradiations_Performed_After_Gamma-Ray_Degradation.pdf

solo utenti autorizzati

Licenza: Copyright dell'editore
Dimensione 1.6 MB
Formato Adobe PDF
1.6 MB Adobe PDF   Visualizza/Apri   Richiedi una copia

I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.

Utilizza questo identificativo per citare o creare un link a questo documento: https://hdl.handle.net/11580/28861
Citazioni
  • ???jsp.display-item.citation.pmc??? ND
  • Scopus 6
social impact