MIGLIORAMENTO DI UN SISTEMA DI MISURA PER ECT SU MATERIALI CONDUTTORI BASATO SULL’UTILIZZO DI TECNICHE DI ECCITAZIONE MULTIFREQUENZA E SONDA BIASSIALE
BERNIERI, Andrea;BETTA, Giovanni;FERRIGNO, Luigi;LARACCA, Marco
2013-01-01
File in questo prodotto:
Non ci sono file associati a questo prodotto.
I documenti in IRIS sono protetti da copyright e tutti i diritti sono riservati, salvo diversa indicazione.