NOCELLA, Antonio
NOCELLA, Antonio
Dipartimento di Ingegneria Elettrica e dell'Informazione "Maurizio Scarano"
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Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Metrological characterization of an ECT method for thickness estimation based on dimensional analysis | 1-gen-2023 | Sardellitti, Alessandro; Milano, Filippo; Nocella, Antonio; Di Capua, Giulia; Ferrigno, Luigi; Tamburrino, Antonello; Laracca, Marco |