Sfoglia per Autore  WYSS, JEFFERY

Opzioni
Mostrati risultati da 1 a 20 di 86
Titolo Data di pubblicazione Autore(i) File
Observation of B^{+}→ψ(2S)K^{+} and B^{0}→ψ(2S)K^{*}(892)^{0} decays and measurements of B-meson branching fractions into J/ψ and ψ(2S) final states 1-gen-1998 Pagliarone, C. E.; Abe, F.; Akimoto, H.; Akopian, A.; Albrow, M. G.; Amadon, A.; Amendolia, S. R.; Amidei, D.; Antos, J.; Aota, S.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Asakawa, T.; Ashmanskas, W.; Atac, M.; Azzi-Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bagdasarov, S.; Bailey, M. W.; de Barbaro, P.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Barone, M.; Bauer, G.; Baumann, T.; Bedeschi, F.; Behrends, S.; Belforte, S.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Bensinger, J.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Berryhill, J.; Bertolucci, S.; Bettelli, S.; Bevensee, B.; Bhatti, A.; Biery, K.; Bigongiari, C.; Binkley, M.; Bisello, D.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Blusk, S.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolla, G.; Bonushkin, Y.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Breccia, L.; Bromberg, C.; Bruner, N.; Brunetti, R.; Buckley-Geer, E.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon-Wagner, A.; Byrum, K. L.; Campbell, M.; Caner, A.; Carithers, W.; Carlsmith, D.; Cassada, J.; Castro, A.; Cauz, D.; Cerri, A.; Chang, P. S.; Chang, P. T.; Chao, H. Y.; Chapman, J.; Cheng, M. -T.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chiou, C. N.; Chlebana, F.; Christofek, L.; Chu, M. L.; Cihangir, S.; Clark, A. G.; Cobal, M.; Cocca, E.; Contreras, M.; Conway, J.; Cooper, J.; Cordelli, M.; Costanzo, D.; Couyoumtzelis, C.; Cronin-Hennessy, D.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; Daniels, T.; Dejongh, F.; Dell’Agnello, S.; Dell’Orso, M.; Demina, R.; Demortier, L.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dittmann, J. R.; Donati, S.; Done, J.; Dorigo, T.; Eddy, N.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Ely, R.; Engels, E.; Erdmann, W.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Feild, R. G.; Feng, Z.; Ferretti, C.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Fukui, Y.; Gadomski, S.; Galeotti, S.; Gallinaro, M.; Ganel, O.; Garcia-Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gay, C.; Geer, S.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giokaris, N.; Giromini, P.; Giusti, G.; Gold, M.; Gordon, A.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Grassmann, H.; Groer, L.; Grosso-Pilcher, C.; Guillian, G.; Guimaraes da Costa, J.; Guo, R. S.; Haber, C.; Hafen, E.; Hahn, S. R.; Hamilton, R.; Handa, T.; Handler, R.; Happacher, F.; Hara, K.; Hardman, A. D.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hauser, J.; Hayashi, E.; Heinrich, J.; Hao, W.; Hinrichsen, B.; Hoffman, K. D.; Hohlmann, M.; Holck, C.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Huang, Z.; Huffman, B. T.; Hughes, R.; Huston, J.; Huth, J.; Ikeda, H.; Incagli, M.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iwai, J.; Iwata, Y.; James, E.; Jensen, H.; Joshi, U.; Kajfasz, E.; Kambara, H.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Karr, K.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keaffaber, T. A.; Kelley, K.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Kestenbaum, D.; Khazins, D.; Kikuchi, T.; Kim, B. J.; Kim, H. S.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Knoblauch, D.; Koehn, P.; Köngeter, A.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korytov, A.; Kovacs, E.; Kowald, W.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kuns, E.; Kurino, K.; Kuwabara, T.; Laasanen, A. T.; Nakano, I.; Lami, S.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lancaster, M.; Lanzoni, M.; Latino, G.; Lecompte, T.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Limon, P.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Liu, J. B.; Liu, Y. C.; Lockyer, N.; Long, O.; Loomis, C.; Loreti, M.; Lucchesi, D.; Lukens, P.; Lusin, S.; Lys, J.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Mangano, M.; Mariotti, M.; Marriner, J. P.; Martin, A.; Matthews, J. A. J.; Mazzanti, P.; Mcintyre, P.; Melese, P.; Menguzzato, M.; Menzione, A.; Meschi, E.; Metzler, S.; Miao, C.; Miao, T.; Michail, G.; Miller, R.; Minato, H.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Miyashita, S.; Moggi, N.; Moore, E.; Morita, Y.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Murat, P.; Murgia, S.; Nakada, H.; Nakano, I.; Nelson, C.; Neuberger, D.; Newman-Holmes, C.; Ngan, C. -Y. P.; Nodulman, L.; Nomerotski, A.; Oh, S. H.; Ohmoto, T.; Ohsugi, T.; Oishi, R.; Okabe, M.; Okusawa, T.; Olsen, J.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Pappas, S. P.; Parashar, N.; Parri, A.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Perazzo, A.; Pescara, L.; Peters, M. D.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pillai, M.; Pitts, K. T.; Plunkett, R.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Punzi, G.; Ragan, K.; Reher, D.; Reischl, M.; Ribon, A.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Robertson, W. J.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Saab, T.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sato, H.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Scott, A.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semeria, F.; Shah, T.; Shapiro, M. D.; Shaw, N. M.; Shepard, P. F.; Shibayama, T.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Sliwa, K.; Smith, C.; Snider, F. D.; Spalding, J.; Speer, T.; Sphicas, P.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Stanco, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Ströhmer, R.; Strologas, J.; Strumia, F.; Stuart, D.; Sumorok, K.; Suzuki, J.; Suzuki, T.; Takahashi, T.; Takano, T.; Takashima, R.; Takikawa, K.; Tanaka, M.; Tannenbaum, B.; Tartarelli, F.; Taylor, W.; Tecchio, M.; Teng, P. K.; Teramoto, Y.; Terashi, K.; Tether, S.; Theriot, D.; Thomas, T. L.; Thurman-Keup, R.; Timko, M.; Tipton, P.; Titov, A.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Toyoda, H.; Trischuk, W.; de Troconiz, J. F.; Truitt, S.; Tseng, J.; Turini, N.; Uchida, T.; Ukegawa, F.; Valls, J.; van den Brink, S. C.; Vejcik, S.; Velev, G.; Vidal, R.; Vilar, R.; Vucinic, D.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wahl, J.; Wallace, N. B.; Walsh, A. M.; Wang, C.; Wang, C. H.; Wang, M. J.; Warburton, A.; Watanabe, T.; Watts, T.; Webb, R.; Wei, C.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkinson, R.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Winn, D.; Wolinski, D.; Wolinski, J.; Worm, S.; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yasuoka, K.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yoh, J.; Yosef, C.; Yoshida, T.; Yu, I.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zucchelli, S.
EFFETCS OF HEAVY ION IMPACT ON POWER DIODES 1-gen-1999 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Wyss, Jeffery; Pantano, D.; Bisello, D.
Effects of heavy ion impact on power diodes 1-gen-1999 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Wyss, Jeffery; D., Pantano; D., Bisello
LOW FIELD LEAKAGE CURRENT AND SOFT BREAKDOWN IN ULTRA-THIN GATE OXIDES AFTER HEAVY ION, ELECTRONS OR X-RAY IRRADIATION 1-gen-2000 Ceschia, M.; Paccagnella, A.; Sandron, S.; Ghidini, G.; Wyss, Jeffery; Lavale, M.; Flament, O.
HEAVY ION IRRADIATION OF THIN GATE OXIDES 1-gen-2000 Ceschia, M.; Paccagnella, A.; Turini, M.; Candelori, A.; Ghidini, G.; Wyss, Jeffery
Experimental measurement of recombination lifetime in proton irradiated power devices 1-gen-2000 Daliento, S.; Sanseverino, Annunziata; Spirito, P.; Busatto, Giovanni; Wyss, Jeffery
Experimental Measurements of Recombination Lifetime in Proton Irradiated Power Devices 1-gen-2000 S., Daliento; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito; Busatto, Giovanni; Wyss, Jeffery
RADIATION DAMAGE OF STANDARD AND OXYGENATED SILICON DIODES IRRADIATIED BY 16-MEV AND 27-MEV PROTONS 1-gen-2001 Bisello, D.; Wyss, Jeffery; Candelori, A.; Kaminsky, A.; Pantano, D.
Observation of an energy dependence of the radiation damage on standard and oxygenated silicon diodes by 16, 21, and 27 MeV protons 1-gen-2001 D., Bisello; Wyss, Jeffery; A., Candelori; A., Kaminsky; D., Pantano
SIRAD: AN IRRADIATION FACILITY AT THE LNL TANDEM ACCELERATOR FOR RADIATION DAMAGE STUDIES ON SEMICONDUCTOR DETECTORS AND ELECTRONIC DEVICES AND SYSTEMS 1-gen-2001 Wyss, Jeffery; Bisello, D.; Pantano, D.
ION ELECTRON EMISSION MICROSCOPY AT THE SIRAD SINGLE EVENT FACILITY 1-gen-2001 Bisello, D.; Kaminsky, A.; Magalini, A.; Nigro, M.; Pantano, D.; Sedykh, S.; Wyss, Jeffery
Non-destructive tester for single event burnout of power diodes 1-gen-2001 Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Velardi, Francesco; Wyss, Jeffery
Investigation of t-tbar in the full hadronic final state at CDF with a neural network approach 1-gen-2001 A., Sidoti; P., Azzi; G., Busetto; A., Castro; S., Dusini; I., Lazzizzera; Wyss, Jeffery
LOW- AND HIGH-ENERGY PROTON IRRADIATIONS OF STANDARD AND OXYGENATED SILICON DIODES 1-gen-2001 Candelori, A.; Rando, R.; Bisello, D.; Bacchetta, N.; Kaminsky, A.; Pantano, D.; Stavitsky, I.; Wyss, Jeffery
RADIATION EFFECTS ON FLOATING-GATE MEMORY CELLS 1-gen-2001 Cellere, G.; Pellati, P.; Chimenton, A.; Wyss, Jeffery; Modelli, A.; Larcher, L.; Paccagnella, A.
THIN OXIDE DEGRADATION AFTER HIGH-ENERGY ION IRRADIATION 1-gen-2001 Candelori, A.; Ceschia, M.; Paccagnella, A.; Wyss, Jeffery; Bisello, D.; Ghidini, G.
High energy Si ion irradiation effects on 10nm thick oxide MOS capacitors 1-gen-2001 A., Candelori; A., Paccagnella; G., Raggi; Wyss, Jeffery; D., Bisello; G., Ghidini
Measurement of thett¯production cross section inpp¯collisions at sqrt(s)=1.8TeV 1-gen-2001 Pagliarone, C. E.; Affolder, T.; Akimoto, H.; Akopian, A.; Albrow, M. G.; Amaral, P.; Amendolia, S. R.; Amidei, D.; Anikeev, K.; Antos, J.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Asakawa, T.; Ashmanskas, W.; Azfar, F.; Azzi-Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bailey, M. W.; Bailey, S.; de Barbaro, P.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Barone, M.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Belforte, S.; Bell, W. H.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Bensinger, J.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Berryhill, J.; Bevensee, B.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Blusk, S. R.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolla, G.; Bonushkin, Y.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Brandl, A.; van den Brink, S.; Bromberg, C.; Brozovic, M.; Bruner, N.; Buckley-Geer, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon-Wagner, A.; Byrum, K. L.; Calafiura, P.; Campbell, M.; Carithers, W.; Carlson, J.; Carlsmith, D.; Caskey, W.; Cassada, J.; Castro, A.; Cauz, D.; Cerri, A.; Chan, A. W.; Chang, P. S.; Chang, P. T.; Chapman, J.; Chen, C.; Chen, Y. C.; Cheng, M. -T.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chirikov-Zorin, I.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Christofek, L.; Chu, M. L.; Chung, Y. S.; Ciobanu, C. I.; Clark, A. G.; Connolly, A.; Conway, J.; Cordelli, M.; Cranshaw, J.; Cronin-Hennessy, D.; Cropp, R.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; D’Auria, S.; Dejongh, F.; Dell’Agnello, S.; Dell’Orso, M.; Demortier, L.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dittmann, J. R.; Donati, S.; Done, J.; Dorigo, T.; Eddy, N.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Engels, E.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Feild, R. G.; Fernandez, J. P.; Ferretti, C.; Field, R. D.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Fukui, Y.; Furic, I.; Galeotti, S.; Gallinaro, M.; Gao, T.; Garcia-Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gatti, P.; Gay, C.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giromini, P.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldstein, J.; Gordon, A.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Green, C.; Grim, G.; Gris, P.; Groer, L.; Grosso-Pilcher, C.; Guenther, M.; Guillian, G.; Guimaraes da Costa, J.; Haas, R. M.; Haber, C.; Hafen, E.; Hahn, S. R.; Hall, C.; Handa, T.; Handler, R.; Hao, W.; Happacher, F.; Hara, K.; Hardman, A. D.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Heinrich, J.; Heiss, A.; Herndon, M.; Hill, C.; Hoffman, K. D.; Holck, C.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hughes, R.; Huston, J.; Huth, J.; Ikeda, H.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iwai, J.; Iwata, Y.; James, E.; Jones, M.; Joshi, U.; Kambara, H.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Karr, K.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keaffaber, T. A.; Kelley, K.; Kelly, M.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Khazins, D.; Kikuchi, T.; Kilminster, B.; Kim, B. J.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirby, M.; Kirk, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Koehn, P.; Köngeter, A.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korn, A.; Korytov, A.; Kovacs, E.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kurino, K.; Kuwabara, T.; Laasanen, A. T.; Lai, N.; Lami, S.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lander, R.; Latino, G.; Lecompte, T.; Lee, A. M.; Lee, K.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Lindgren, M.; Liu, J. B.; Liu, Y. C.; Litvintsev, D. O.; Lobban, O.; Lockyer, N.; Loken, J.; Loreti, M.; Lucchesi, D.; Lukens, P.; Lusin, S.; Lyons, L.; Lys, J.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Malferrari, L.; Mangano, M.; Mariotti, M.; Martignon, G.; Martin, A.; Matthews, J. A. J.; Mayer, J.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcintyre, P.; Mckigney, E.; Menguzzato, M.; Menzione, A.; Mesropian, C.; Meyer, A.; Miao, T.; Miller, R.; Miller, J. S.; Minato, H.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitselmakher, G.; Moggi, N.; Moore, E.; Moore, R.; Morita, Y.; Moulik, T.; Mulhearn, M.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Munar, A.; Murat, P.; Murgia, S.; Nachtman, J.; Nagaslaev, V.; Nahn, S.; Nakada, H.; Nakaya, T.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nelson, T.; Neu, C.; Neuberger, D.; Newman-Holmes, C.; Ngan, C. -Y. P.; Niu, H.; Nodulman, L.; Nomerotski, A.; Oh, S. H.; Ohmoto, T.; Ohsugi, T.; Oishi, R.; Okusawa, T.; Olsen, J.; Orejudos, W.; Palmonari, F.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Pappas, S. P.; Partos, D.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pescara, L.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pitts, K. T.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Pope, G.; Popovic, M.; Prokoshin, F.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Pukhov, O.; Punzi, G.; Ragan, K.; Rakitine, A.; Reher, D.; Reichold, A.; Ribon, A.; Riegler, W.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Riveline, M.; Robertson, W. J.; Robinson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Rossin, R.; Roy, A.; Safonov, A.; Denis, R. St.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sato, H.; Savard, P.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Scodellaro, L.; Scott, A.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Semeria, F.; Shah, T.; Shapiro, M. D.; Shepard, P. F.; Shibayama, T.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Sidoti, A.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smith, C.; Snider, F. D.; Solodsky, A.; Spalding, J.; Speer, T.; Sphicas, P.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strologas, J.; Strumia, F.; Stuart, D.; Sumorok, K.; Suzuki, T.; Takano, T.; Takashima, R.; Takikawa, K.; Tamburello, P.; Tanaka, M.; Tannenbaum, B.; Taylor, W.; Tecchio, M.; Tesarek, R.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tether, S.; Thompson, A. S.; Thurman-Keup, R.; Tipton, P.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Toyoda, H.; Trischuk, W.; de Troconiz, J. F.; Tseng, J.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Vaiciulis, T.; Valls, J.; Vejcik, S.; Velev, G.; Vidal, R.; Vilar, R.; Volobouev, I.; Vucinic, D.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wahl, J.; Wallace, N. B.; Walsh, A. M.; Wang, C.; Wang, M. J.; Watanabe, T.; Waters, D.; Watts, T.; Webb, R.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkes, T.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Winn, D.; Wolbers, S.; Wolinski, D.; Wolinski, J.; Wolinski, S.; Worm, S.; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yoh, J.; Yosef, C.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yu, Z.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zucchelli, S.
Measurement of the inclusive jet cross section inpp¯collisions ats=1.8TeV 1-gen-2001 Pagliarone, C. E.; Affolder, T.; Akimoto, H.; Akopian, A.; Albrow, M. G.; Amaral, P.; Amendolia, S. R.; Amidei, D.; Anikeev, K.; Antos, J.; Apollinari, G.; Arisawa, T.; Asakawa, T.; Ashmanskas, W.; Azfar, F.; Azzi-Bacchetta, P.; Bacchetta, N.; Bailey, M. W.; Bailey, S.; de Barbaro, P.; Barbaro-Galtieri, A.; Barnes, V. E.; Barnett, B. A.; Baroiant, S.; Barone, M.; Bauer, G.; Bedeschi, F.; Belforte, S.; Bell, W. H.; Bellettini, G.; Bellinger, J.; Benjamin, D.; Bensinger, J.; Beretvas, A.; Berge, J. P.; Berryhill, J.; Bevensee, B.; Bhatti, A.; Binkley, M.; Bisello, D.; Bishai, M.; Blair, R. E.; Blocker, C.; Bloom, K.; Blumenfeld, B.; Blusk, S. R.; Bocci, A.; Bodek, A.; Bokhari, W.; Bolla, G.; Bonushkin, Y.; Bortoletto, D.; Boudreau, J.; Brandl, A.; van den Brink, S.; Bromberg, C.; Brozovic, M.; Bruner, N.; Buckley-Geer, E.; Budagov, J.; Budd, H. S.; Burkett, K.; Busetto, G.; Byon-Wagner, A.; Byrum, K. L.; Calafiura, P.; Campbell, M.; Carithers, W.; Carlson, J.; Carlsmith, D.; Caskey, W.; Cassada, J.; Castro, A.; Cauz, D.; Cerri, A.; Chan, A. W.; Chang, P. S.; Chang, P. T.; Chapman, J.; Chen, C.; Chen, Y. C.; Cheng, M. -T.; Chertok, M.; Chiarelli, G.; Chirikov-Zorin, I.; Chlachidze, G.; Chlebana, F.; Christofek, L.; Chu, M. L.; Chung, Y. S.; Ciobanu, C. I.; Clark, A. G.; Connolly, A.; Conway, J.; Cordelli, M.; Cranshaw, J.; Cronin-Hennessy, D.; Cropp, R.; Culbertson, R.; Dagenhart, D.; D’Auria, S.; Dejongh, F.; Dell’Agnello, S.; Dell’Orso, M.; Demortier, L.; Deninno, M.; Derwent, P. F.; Devlin, T.; Dittmann, J. R.; Dominguez, A.; Donati, S.; Done, J.; Dorigo, T.; Eddy, N.; Einsweiler, K.; Elias, J. E.; Engels, E.; Erbacher, R.; Errede, D.; Errede, S.; Fan, Q.; Feild, R. G.; Fernandez, J. P.; Ferretti, C.; Field, R. D.; Fiori, I.; Flaugher, B.; Foster, G. W.; Franklin, M.; Freeman, J.; Friedman, J.; Fukui, Y.; Furic, I.; Galeotti, S.; Gallas, A.; Gallinaro, M.; Gao, T.; Garcia-Sciveres, M.; Garfinkel, A. F.; Gatti, P.; Gay, C.; Gerdes, D. W.; Giannetti, P.; Giromini, P.; Glagolev, V.; Glenzinski, D.; Gold, M.; Goldstein, J.; Gordon, A.; Gorelov, I.; Goshaw, A. T.; Gotra, Y.; Goulianos, K.; Green, C.; Grim, G.; Gris, P.; Groer, L.; Grosso-Pilcher, C.; Guenther, M.; Guillian, G.; Guimaraes da Costa, J.; Haas, R. M.; Haber, C.; Hafen, E.; Hahn, S. R.; Hall, C.; Handa, T.; Handler, R.; Hao, W.; Happacher, F.; Hara, K.; Hardman, A. D.; Harris, R. M.; Hartmann, F.; Hatakeyama, K.; Hauser, J.; Heinrich, J.; Heiss, A.; Herndon, M.; Hill, C.; Hoffman, K. D.; Holck, C.; Hollebeek, R.; Holloway, L.; Hughes, R.; Huston, J.; Huth, J.; Ikeda, H.; Incandela, J.; Introzzi, G.; Iwai, J.; Iwata, Y.; James, E.; Jensen, H.; Jones, M.; Joshi, U.; Kambara, H.; Kamon, T.; Kaneko, T.; Karr, K.; Kasha, H.; Kato, Y.; Keaffaber, T. A.; Kelley, K.; Kelly, M.; Kennedy, R. D.; Kephart, R.; Khazins, D.; Kikuchi, T.; Kilminster, B.; Kim, B. J.; Kim, D. H.; Kim, H. S.; Kim, M. J.; Kim, S. H.; Kim, Y. K.; Kirby, M.; Kirk, M.; Kirsch, L.; Klimenko, S.; Koehn, P.; Köngeter, A.; Kondo, K.; Konigsberg, J.; Kordas, K.; Korn, A.; Korytov, A.; Kovacs, E.; Kroll, J.; Kruse, M.; Kuhlmann, S. E.; Kurino, K.; Kuwabara, T.; Laasanen, A. T.; Lai, N.; Lami, S.; Lammel, S.; Lamoureux, J. I.; Lancaster, J.; Lancaster, M.; Lander, R.; Latino, G.; Lecompte, T.; Lee, A. M.; Lee, K.; Leone, S.; Lewis, J. D.; Lindgren, M.; Liss, T. M.; Liu, J. B.; Liu, Y. C.; Litvintsev, D. O.; Lobban, O.; Lockyer, N.; Loken, J.; Loreti, M.; Lucchesi, D.; Lukens, P.; Lusin, S.; Lyons, L.; Lys, J.; Madrak, R.; Maeshima, K.; Maksimovic, P.; Malferrari, L.; Mangano, M.; Mariotti, M.; Martignon, G.; Martin, A.; Matthews, J. A. J.; Mayer, J.; Mazzanti, P.; Mcfarland, K. S.; Mcintyre, P.; Mckigney, E.; Menguzzato, M.; Menzione, A.; Mesropian, C.; Meyer, A.; Miao, T.; Miller, R.; Miller, J. S.; Minato, H.; Miscetti, S.; Mishina, M.; Mitselmakher, G.; Moggi, N.; Moore, E.; Moore, R.; Morita, Y.; Moulik, T.; Mulhearn, M.; Mukherjee, A.; Muller, T.; Munar, A.; Murat, P.; Murgia, S.; Nachtman, J.; Nagaslaev, V.; Nahn, S.; Nakada, H.; Nakano, I.; Nelson, C.; Nelson, T.; Neu, C.; Neuberger, D.; Newman-Holmes, C.; Ngan, C. -Y. P.; Niu, H.; Nodulman, L.; Nomerotski, A.; Oh, S. H.; Ohmoto, T.; Ohsugi, T.; Oishi, R.; Okusawa, T.; Olsen, J.; Orejudos, W.; Palmonari, F.; Paoletti, R.; Papadimitriou, V.; Pappas, S. P.; Partos, D.; Patrick, J.; Pauletta, G.; Paulini, M.; Paus, C.; Pescara, L.; Phillips, T. J.; Piacentino, G.; Pitts, K. T.; Pompos, A.; Pondrom, L.; Pope, G.; Popovic, M.; Prokoshin, F.; Proudfoot, J.; Ptohos, F.; Pukhov, O.; Punzi, G.; Ragan, K.; Rakitine, A.; Reher, D.; Reichold, A.; Ribon, A.; Riegler, W.; Rimondi, F.; Ristori, L.; Riveline, M.; Robertson, W. J.; Robinson, A.; Rodrigo, T.; Rolli, S.; Rosenson, L.; Roser, R.; Rossin, R.; Roy, A.; Safonov, A.; St. Denis, R.; Sakumoto, W. K.; Saltzberg, D.; Sanchez, C.; Sansoni, A.; Santi, L.; Sato, H.; Savard, P.; Schlabach, P.; Schmidt, E. E.; Schmidt, M. P.; Schmitt, M.; Scodellaro, L.; Scott, A.; Scribano, A.; Segler, S.; Seidel, S.; Seiya, Y.; Semenov, A.; Semeria, F.; Shah, T.; Shapiro, M. D.; Shepard, P. F.; Shibayama, T.; Shimojima, M.; Shochet, M.; Siegrist, J.; Sill, A.; Sinervo, P.; Singh, P.; Slaughter, A. J.; Sliwa, K.; Smith, C.; Snider, F. D.; Solodsky, A.; Spalding, J.; Speer, T.; Sphicas, P.; Spinella, F.; Spiropulu, M.; Spiegel, L.; Steele, J.; Stefanini, A.; Strologas, J.; Strumia, F.; Stuart, D.; Sumorok, K.; Suzuki, T.; Takano, T.; Takashima, R.; Takikawa, K.; Tamburello, P.; Tanaka, M.; Tannenbaum, B.; Taylor, W.; Tecchio, M.; Tesarek, R.; Teng, P. K.; Terashi, K.; Tether, S.; Thompson, A. S.; Thurman-Keup, R.; Tipton, P.; Tkaczyk, S.; Toback, D.; Tollefson, K.; Tollestrup, A.; Toyoda, H.; Trischuk, W.; de Troconiz, J. F.; Tseng, J.; Turini, N.; Ukegawa, F.; Vaiciulis, T.; Valls, J.; Vejcik, S.; Velev, G.; Vidal, R.; Vilar, R.; Volobouev, I.; Vucinic, D.; Wagner, R. G.; Wagner, R. L.; Wallace, N. B.; Walsh, A. M.; Wang, C.; Wang, M. J.; Watanabe, T.; Waters, D.; Watts, T.; Webb, R.; Wenzel, H.; Wester, W. C.; Wicklund, A. B.; Wicklund, E.; Wilkes, T.; Williams, H. H.; Wilson, P.; Winer, B. L.; Winn, D.; Wolbers, S.; Wolinski, D.; Wolinski, J.; Wolinski, S.; Worm, S.; Wu, X.; Wyss, J.; Yagil, A.; Yao, W.; Yeh, G. P.; Yeh, P.; Yoh, J.; Yosef, C.; Yoshida, T.; Yu, I.; Yu, S.; Yu, Z.; Zanetti, A.; Zetti, F.; Zucchelli, S.
Neutron irradiation effects on standard and oxygenated silicon diodes 1-gen-2002 R., Rando; A., Candelori; D., Bisello; A., Kaminsky; A., Litovchenko; D., Pantano; I., Stavitsky; Wyss, Jeffery
Mostrati risultati da 1 a 20 di 86
Legenda icone

  •  file ad accesso aperto
  •  file disponibili sulla rete interna
  •  file disponibili agli utenti autorizzati
  •  file disponibili solo agli amministratori
  •  file sotto embargo
  •  nessun file disponibile