Sfoglia per Autore  TEDESCO, Davide

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Experimental study of Single Event Effects induced by heavy ion irradiation in enhancement mode GaN power HEMT 1-gen-2015 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Iannuzzo, Francesco; Mattiazzo, S.; Sanseverino, Annunziata; Silvestrin, L.; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
Experimental Study of the Instabilities Observed in 650 V Enhancement Mode GaN HEMT during Short Circuit 1-gen-2017 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, A.; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
Progressive Drain Damage in SiC Power MOSFETs Exposed to Ionizing Radiation 1-gen-2018 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco; Simona, Mattiazzo; Luca, Silvestin
Failure analysis of 650 V enhancement mode GaN HEMT after short circuit tests 1-gen-2018 Abbate, C.; Busatto, G.; Sanseverino, A.; Tedesco, D.; Velardi, F.
Measure of High Frequency Input Impedance to Study the Instability of Power Devices in Short Circuit 1-gen-2018 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Sanseverino, Annunziata; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
Gate Damages Induced in SiC Power MOSFETs During Heavy-Ion Irradiation--Part I 1-gen-2019 Abbate, C.; Busatto, G.; Tedesco, D.; Sanseverino, A.; Silvestrin, L.; Velardi, F.; Wyss, J.
Gate Damages Induced in SiC Power MOSFETs During Heavy Ion Irradiation (Part II) 1-gen-2019 Abbate, Carmine; Busatto, Giovanni; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco; Sanseverino, Annunziata; Wyss, Jeffery
Failure mechanisms of enhancement mode GaN power HEMTs operated in short circuit 1-gen-2019 Abbate, C.; Busatto, G.; Sanseverino, A.; Tedesco, D.; Velardi, F.
Analysis of Current in Pulsating DC Link Converter with Zero Voltage Transition 1-gen-2020 Marciano, Daniele; Busatto, Giovanni; Abbate, Carmine; Sanseverino, Annunziata; Tedesco, Davide; Velardi, Francesco
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