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Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon
2005-01-01 L., Bellemo; R., Carta; S., Daliento; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; M., Romano; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito
Investigation on Electron Beam Melting: Dimensional accuracy and process repeatability
2018-01-01 Franchitti, Stefania; Borrelli, Rosario; Pirozzi, Carmine; Carrino, Luigi; Polini, Wilma; Sorrentino, Luca; Gazzerro, Achille
Titolo | Data di pubblicazione | Autore(i) | File |
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Electrical measurement of the lattice damage induced by a-particle implantation in silicon | 1-gen-2005 | L., Bellemo; R., Carta; S., Daliento; L., Gialanella; B. N., Limata; L., Mele; M., Romano; Sanseverino, Annunziata; P., Spirito | |
Investigation on Electron Beam Melting: Dimensional accuracy and process repeatability | 1-gen-2018 | Franchitti, Stefania; Borrelli, Rosario; Pirozzi, Carmine; Carrino, Luigi; Polini, Wilma; Sorrentino, Luca; Gazzerro, Achille |
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